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設備紹介

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材料作製装置

  • 高周波真空溶解装置 (富士電波工機)
  • 結晶育成装置(大亜真空)
  • アーク溶解炉(日本特殊機械)
  • 真空蒸着装置UPC-260F (ULVAC)
  • 高周波真空溶解装置
  • 結晶育成装置
  • 真空蒸着装置

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材料加工装置

  • 放電加工機(三協エンジニヤリング)
  • 万能工作機
  • 金属用ラボカッター,MC-122(マルトー)
  • 低速ダイヤモンドカッター,アイソメット(ビューラー)
  • 振動研磨機,バイブロメット2(ビューラー)
  • 回転研磨機,プラトFRD(アキュラ)
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  • 万能工作機
  • 金属用ラボカッター
  • 低速ダイヤモンドカッター
  • 振動研磨機
  • 回転研磨機

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熱処理装置

  • 超電導磁場中熱処理装置 / 6T, 1500℃ (住友重機)
  • 直流磁場中熱処理装置 / 1.5T, 1200℃(玉川製作所 / サーモ理工)
  • 交流磁場中熱処理装置 / 60Hz, 0.5T, 1500℃ (電子磁気工業 / サーモ理工)
  • シリコニット炉 / 1200℃
  • シリコニット炉 / 1500℃ (光洋サーモシステム)
  • マッフル炉/ 1100℃ (光洋サーモシステム)
  • チューブ炉/ 1100℃ (光洋サーモシステム)
  • 超電導磁場中熱処理装置
  • 交流磁場中熱処理装置

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組織解析装置

  • 電界放出型走査電子顕微鏡 SU5000 (日立ハイテク)
    • OIM結晶方位自動解析装置(TSL)
    • EDS分析装置(EDAX)
    • Evactronデコンタミネータ(XEI Scientific)
  • 電界放出型透過電子顕微鏡 (共通装置),Tecnai F20 (FEI)
  • 透過型電子顕微鏡 (共通装置),JEM-2100Plus (日本電子)
  • 集束イオンビーム (共通装置),NB5000 (日立ハイテク)
  • 電子線マイクロアナライザ (共通装置), EPMA-1720HT (島津製作所)
  • 二次イオン質量分析器(共通装置)
  • 高温顕微鏡 / 1500℃ (ジャパンハイテック)
  • Kerr効果顕微鏡 (オリンパス)
  • 光学顕微鏡 (ライカ)
  • 光学顕微鏡 (オリンパス)
  • 電界放出型走査電子顕微鏡
  • 電界放出型透過電子顕微鏡
  • 透過型電子顕微鏡
  • 集束イオンビーム
  • 電子線マイクロアナライザ
  • 光学顕微鏡(ライカ)
  • 光学顕微鏡(オリンパス)

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特性評価装置

  • 振動試料型磁気測定装置,VSM(玉川製作所)
  • 超高温万能試験装置 AG-50kNG /50kN, 2000℃(島津製作所 / ソーワ科学)
  • 高温クリープ試験装置 特注, 1000℃(島津製作所)
  • 走査型プローブ顕微鏡 SPM9700HT(島津製作所)
    • 表面電位計測システム(ケルビンプローブ法)
    • 局所電流計測システム
    • 局所熱伝導特性計測システム(μ-TA)
  • 紫外可視光度計 UV-2400PC (島津製作所)
  • ビッカース硬度計(ミツトヨ)
  • ビッカース硬度計(島津製作所)
  • トライボインデンター TI750(HYSITRON)
  • 磁場環境下示差走査熱量計(磁場中DSC)
  • 振動試料型磁気測定装置
  • 超高温万能試験装置
  • 高温クリープ試験装置
  • 走査型プローブ顕微鏡
  • ビッカース硬度計(ミツトヨ)
  • ビッカース硬度計(島津製作所)
  • トライボインデンター
  • 磁場環境下示差走査熱量計

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TEM試料作製装置

  • テヌポール(丸本ストルアス)
  • イオンコーター(エイコー)
  • ワイヤーソー(メイワフォーシス)
  • 超音波加工機(メイワフォーシス)
  • ディンプルグラインダー II(Gatan)
  • 薄膜作製装置・イオンスライサ(日本電子)
  • 精密イオン研磨機 PIPS II(Gatan)
  • イオンビームミリング装置 EM RES102(ライカ)
  • ディンプルグラインダー II
  • イオンスライサ
  • PIPS II
  • EM RES102

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その他

  • 電子天秤 / 0.1mg(ザルトリウス)
  • 電子天秤 / 0.1mg(A&D)
  • 電子天秤
  • 電子天秤

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