設備紹介
試料作製装置
高周波真空溶解装置 (富士電波工機) 
四楕円鏡型FZ炉，FZ-T-4000-H-VIII-VPO-PC-N（クリスタルシステム） 
アーク溶解炉，NAF-361-31（日本特殊機械） 
真空蒸着装置，VPC-260F（ULVAC）
材料加工装置
放電加工機，DE-70-5T（三協エンジニヤリング） 
万能工作機，TNL500-3M（メカニクス） 
低速ダイヤモンドカッター，アイソメット（ビューラー） 
振動研磨機，バイブロメット2（ビューラー） 
回転研磨機，プラトFRD（アキュラ） 
金属用ラボカッター，MC-122（マルトー）
熱処理装置
直流磁場中熱処理装置 / 1.5T, 1200℃（玉川製作所 / サーモ理工） 
交流磁場中熱処理装置 / 60Hz, 0.5T, 1500℃（電子磁気工業 / サーモ理工） 
真空置換炉，特注 / 1000℃ (ヒートテック) 
シリコニット炉 / 1500℃ (光洋サーモシステム) 
マッフル炉 / 1100℃ (光洋サーモシステム) ［左，中央]
チューブ炉 / 1100℃ (光洋サーモシステム) ［右］
組織解析装置
電界放出型走査電子顕微鏡 SU5000 (日立ハイテク)
・OIM結晶方位自動解析装置（TSL）
・EDS分析装置（EDAX）
・Evactronデコンタミネータ（XEI Scientific）
電界放出型透過電子顕微鏡 (共通装置),Tecnai F20 (FEI) 
透過型電子顕微鏡 (共通装置), JEM-2100Plus (日本電子） 
集束イオンビーム (共通装置),NB5000 (日立ハイテク) 
電子線マイクロアナライザ (共通装置), EPMA-1720HT (島津製作所) 
Kerr効果顕微鏡 (オリンパス） 
光学顕微鏡 (ライカ） 
光学顕微鏡 (オリンパス）
- 高温顕微鏡 / 1500℃ (ジャパンハイテック)
特性評価装置
振動試料型磁気測定装置，VSM（玉川製作所） 
超高温万能試験装置，AG-50kNG /50kN, 2000℃（島津製作所 / ソーワ科学） 
高温クリープ試験装置，特注, 1000℃（島津製作所） 
走査型プローブ顕微鏡，SPM9700HT（島津製作所）
表面電位計測システム（ケルビンプローブ法）
局所電流計測システム
局所熱伝導特性計測システム（μ-TA）
ビッカース硬度計（ミツトヨ） 
ビッカース硬度計（島津製作所） 
トライボインデンター，TI750（HYSITRON） 
ラウエカメラ，IPX-LC（IPX）
- 紫外可視光度計 UV-2400PC (島津製作所)
TEM試料作製装置
ワイヤーソー（メイワフォーシス） 
超音波加工機（メイワフォーシス） 
ディンプルグラインダー II（Gatan） 
薄膜作製装置・イオンスライサ（日本電子） 
精密イオン研磨機，PIPS II（Gatan） 
イオンビームミリング装置，EM RES102（ライカ）
- テヌポール（丸本ストルアス）
その他
電子天秤 / 0.1mg（A&D）［左］
電子天秤 / 0.1mg（ザルトリウス）［右］
